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涂鍍層厚度分析儀：微聚焦加強(qiáng)型X射線裝置：可測(cè)試各類極微小的樣品，即使檢測(cè)面積為0.002mm2的樣品也可輕松，精準(zhǔn)檢測(cè)。變焦裝置及位置補(bǔ)償算法：可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-30mm.自主研發(fā)的EFP算法：多層元素，各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。
